DIC는 전체 표면에서 한 번에 데이터를 캡처하는 기능(full-field), 비접촉식 특성, 높은 공간 해상도 등 여러 장점이 있다. 재료 과학, 기계 공학 및 구조 테스트에서 재료 특성을 분석하고 유한 요소 모델을 검증하며 기존의 포인트 기반 센서로는 측정하기 어려운 복잡한 변형을 연구하는 데 널리 사용된다. DIC의 작동 방식을 알아보자. 표면 준비 : 물체는 자주 고대비의 얼룩 패턴으로 준비된다. 이 무작위 패턴은 DIC 알고리즘이 이미지 간의 움직임을 추적하는 데 필수적이다. 경우에 따라서는 표면의 자연스러운 질감으로 충분할 수도 있다. 이미지 캡처 : 변형 전(참조형으로)과 변형 중 또는 변형 후에 디지털 카메라를 사용해 물체의 이미지를 캡처한다. 카메라는 관심 영역 전체를 캡처하도록 배치되고..
DIC (Digital Image Correlation) 는 물체 표면 패턴의 움직임(deformation, displacement, strain)을 효과적으로 측정하는 데 사용되는 광학 방법이다. 이는 전체 이미지의 이산화된 하위 집합 또는 표면 요소 내에서 패턴의 변위를 분석해 수행된다. 각 윈도우의 최대 상관 관계는 변위에 해당하며, 이를 통해 각 윈도우의 벡터 길이와 방향을 알 수 있다. 비접촉식 풀필드 방식(non-contact and full-field method)로, 물리적으로 물체를 만진 필요 없이 물체의 전체 표면을 측정할 수 있다. 고급 알고리즘은 멀티패스 처리, 창 변형 및 정사각형이 아닌 하위 집합의 가능성을 사용해 하위 픽셀 정확도를 최대화한다. 사용자는 물질 테스트 실험 중에 ..
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